ANGD Mtrologie des indices pour matriaux massifs, en couches minces et liquides Du 23 au 25 novembre

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ANGD Métrologie des indices pour matériaux
massifs, en couches minces et liquidesDu 23 au
25 novembre 2009

• Lycée Fresnel Paris 15ème

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Rappel des objectifs

• Connaître les différentes techniques optiques de
  détermination dindices pour les matériaux
  massifs, en couches minces et liquides
  (ellipsométrie, spectrophotométrie, M-lines)
• Mettre en uvre la détermination dindices à
  laide dappareils du commerce (Perkin Elmer,
  Jobin-Yvon, Metricon) mis à la disposition des
  participants pour cette formation

3
Inscriptions

• Effectif prévu 15 personnes
• 1 inscription supplémentaire
• 1 désistement
• Total 15 participants

4
Budget 2009

• 2000 alloués par le CNRS
• Reliquat de lANGD Optique et photonique (réseau
  ROP )
• Total environ 4500

5
Stagiaires présents par établissement
dappartenance

• CNRS 5
• Université 9
• Autre école 1

6
Répartition par catégorie

• Enseignants-chercheurs 5
• Ingénieurs (IR, IE et AI) 7
• Doctorants 3

7
Répartition par Délégation Régionale
0
0
0
7
0
0
0
4
7
7
6
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0
2
6
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3
0
2
0
5
0
5
3
0
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0
8
Répartition par Délégation en Île de France
1
0
1
1
0
2
9
Évaluation

• 15 Participants/stagiaires
• 6 Intervenants
• 4 Représentants industriels
• 15 Questionnaires rendus

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Résultats de lévaluation
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1 - Comment avez-vous eu connaissance de cette
rencontre ?
12
2 - Déroulement de la formation
13
3 - Les interventions
14
4 Thèmes abordés
15
Thèmes abordés (suite)
16
5 Travaux pratiques
17
Travaux pratiques (suite)
18
6 Que vous a apporté la présentation du
principe de mesure et du matériel par les
industriels ?

• La connaissance des gammes de produits, des
  priac, des solutions possibles et raisonnables
  pour mon budget
• A permis de voir la limitation de l'expérience,
  lépaisseur en couche mince, lépaisseur substrat
• Une approche générale
• Une meilleure vision pour une acquisition future
  de ces matériels
• Lactualisation des connaissances, la possibilité
  de tester des échantillons sur le matériel
  commercial

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(suite)

• Les développements récents d'analyse et de
  caractérisation des couches minces
• Une meilleure connaissance des machines, les
  astuces pour les mesures
• 2 des 4 appareils de mesure sont disponibles au
  labo donc a permis dapprofondir mes
  connaissances et daméliorer ma pratique sur ces
  instruments
• Une aide pour lutilisation des appareils que
  nous possédons déjà
• Les limitations des appareils de mesures
• Une bonne appréciation du matériel présenté par
  les industriels une vue globale de ce qu'on
  peut réaliser avec ces matériels ainsi que
  certains essais concluants sur mes propres
  échantillons

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7 - Les moyens pédagogiques
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8- Les objectifs
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9 - Les contacts
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Commentaires

• Une bonne formule (alternance présentation/TP),
  instructif
• Formation très bien organisée, prévoir
  peut-être plus de temps sur les TP
• Très bonne organisation, sujets intéressants et
  bien traités
• Formation très complète accueil agréable
• Formation intéressante aussi bien pour les
  doctorants que les chercheurs utilisant ces
  techniques bon accueil et durée suffisante
  échanges intéressants avec les doctorants et
  collègues formation à renouveler