9.3

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Title: 9. Modelos de Alta Freq ncia Pequenos Sinais Last modified by: Juliano Document presentation format: Personalizar Other titles: Times New Roman Nimbus ... – PowerPoint PPT presentation

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Title: 9.3


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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Projetos em freqüências muito altas
  • Caixa preta
  • Pode ser usado para algo além do MOS
  • Basta que tenha 4 terminais
  • Polariza-se o modelo com DC e acrescenta-se a
    tensão de pequenos sinais a cada terminal da fig.
    9.1b
  • Todas as tensões de pequenos sinais serão
    senóides e com a mesma freqüência angular ? ?
    mesma freqüência para regime senoidal

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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Fig 9.13a
  • Circuito equivalente a 9.1b no domínio do tempo ?

3
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Fig 9.13a
  • Circuito equivalente a 9.1b no domínio da
    freqüência usando fasores ?

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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Fig 9.14 Definição dos parâmetros-y associados
    com a corrente de dreno
  • Admitância ? Fasor de Corrente / Fasor de Tensão

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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Corrente Id para os fasores de tensão
  • Id como f(admitância, fasor de tensão)
  • Condutância

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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Para as todas as correntes

7
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • De maneira análoga a 9.2.8

8
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Modelo geral usando S como referência

9
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • E assim como feito em 9.2.12

10
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Modelo geral usando B como referência

11
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Agora lembrando do feito em 9.2.19
  • Isto aproxima o modelo ao da figura 9.5

12
9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Modelo geral de parâmetro-y

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9.3 Modelos de Parâmetros-y
  • Medidas corroboram com as expressões até
    freqüências abaixo de ?0 / 3
  • Acima disso, ym tem decréscimo das partes real e
    imagnária e ygs passa a ter parte real

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • 9.4.1 Introdução
  • Não mais considerar modelo Quase-Estático
  • ? Investigar dinâmica de cargas no canal
  • Inércia da camada de inversão ? yxx ? e
    ang(yxx) ? e lt0
  • (atraso entre variação de VG e variação de ID)
  • Limite superior do modelo Quase-Estático é
    proporcional a
  • ?0 , que é proporcional a 1/L2 (na falta de
    velocidade de saturação)
  • Secionamento do dispositivo até o limite da seção
    ? 0

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • Fig. 9.18 Transistor intrínseco com polarização
    e tensões de pequenos sinais
  • Inércia da camada de inversão. Cgs, vs
  • Variação da carga de porta (efeito) atrasada em
    relação a alteração da tensão de fonte (causa)
  • Semelhante para D e G
  • Mesmo raciocínio para D e B
  • Vg rápido ? ydg?

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9.4.2 Modelo Não Quase Estático para Inversão
Forte
  • Assumimos que
  • E a derivada de a1 em relação a Vs ou VB é
    desprezível. Então a1cte.
  • Excitação DC
  • Expressaremos as cargas por unidade de área em
    termos de
  • Usando em
  • Temos

    carga no gate/unid de área
  • E a carga total no gate

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  • Cargas correspondentes para a região de depleção

  • e
  • Carga por unid. de área da camada de inversão
  • Onde
  • De (4.5.6)a corrente no canal no ponto x vale
  • Substituindo UI
  • E em DC a corrente é a mesma em todo o canal
    IDII(x)
  • Integrando a eq de II(x) de x a L temos
  • Que para x0 resulta
  • Igualando as duas equações acima
  • podemos resolver UI(x)
  • Na fonte temos VCS(0)0 então

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  • No dreno temos VCS(L)VDS, VDSlt VDS
  • VCS(L)VDS,
    VDSgtVDS
  • Então
  • Usando as duas equações acima fica fácil
    verificar que a equação de ID é idêntica
  • a equação do modelo simplificado
  • Com
  • Similarmente
    é equivalente a equação
    para a
  • distribuição de potencial correspondente ao
    modelo simplificado de inversão forte
  • dado por (4.5.49)
  • Sempre considerando IG0 e IB0

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  • Excitação Variante no Tempo
  • Iremos mostrar como as equações DC devem ser
    modificadas para tensões variantes no tempo.

  • onde
  • Como permitiremos rápidas variações, IDII(x)
    NÃO VALE! Vamos considerar a equação de
    continuidade
    substituindo
  • Temos
  • E as correntes nos terminais

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  • Excitação com Pequenos Sinais
  • Assumimos que a tensão total nos terminais vale
  • Onde o 2º termo (direito) vale ao incremento de
    pequeno sinal. Teremos assim
  • Utilizando essas equações podemos dividir as
    expressões em duas partes, a de excitação e a de
    pequeno incremento. Por exemplo, usando as
    quantidades acima em

    temos
  • Então

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  • Similarmente, de em
    temos
  • Resultando em
  • Para derivarmos expressões para as cargas da
    região de depleção notamos que o termo da raíz se
    transforma em
  • Como é pequeno, podemos aproximar
    pelos primeiros 2 termos da série de expansão,
    resultando em
  • Usando a equação acima na equação de
    temos

  • e
  • Para utilizamos o mesmo termo da
    raíz, e chegamos em
  • Para o cálculo de ,consideramos
    pequeno, resultando em (P.913)

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  • Usando o fato de que
    temos
  • Para a corrente de dreno de pequeno sinal temos
  • Para a corrente de gate de pequeno sinal temos

  • Usando a equação integral de qg(t) e qg(x,t) na
    acima e substituindo
  • no resultado, obtemos
  • Para a corrente de substrato de pequeno sinal
    temos
  • Usando a equação integral de qb(t) e qb(x,t) na
    acima e substituindo
  • no resultado, obtemos
  • Para encontrarmos a corrente de qualquer terminal
    precisamos uma expressão para ui(x,t) que deverá
    ser obtida através das expressões de ii(x,t). O
    resultado depende da forma da tensão de pequeno
    sinal do terminal através das condições de
    contorno ui(0,t) na fonte e ui(L,t) no dreno

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  • Excitação com Exponencial Complexa
  • Ao invés de um exemplo prático iremos agora
    utilizar uma excitação fíctícia
  • Assim temos
  • A parte real de qualquer excitação acima é uma
    senóide. Se M é a magnitude e f é a fase de Vgs
    (por exemplo) então RVgsM cos (wt f)

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  • Como W,L,Cox,µ são parâmetros conhecidos,a1
    depende apenas de Vsb e Ui(x) é uma função
    conhecida de x. E Vgs, Vds, Vbs são fasores que
    representam a excitação, então para um dado w,
    tëm-se um sistema de duas equações diferenciais
    com duas funções conhecidas Ii(x,w) e Ui(x,w).
    Este sistema pode ser resolvido utilizando-se
    funções de Bessel ou funções de Kelvin. Podemos
    substituí-las nas equações de Ig(w) e Ib(w)
    (P.9.15)

  • Onde
    e D(w)
    são séries infinitas em jw
  • Os coeficientes das séries são dados no Apêndice
    N.Das equações obtemos os parâmetros y

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  • Ex Usar a equação de Nkl(w) em ygd
  • Os parâmetros y podem ser calculados para uma
    dada freqüência com a precisão desejada (número
    de termos). Os valores obtidos podem ser
    substituídos no circuito da Fig 9.15.
    Considerando o circuito da Fig. 9.17, observamos
    apenas três parâmetrosygd, ygb e ybd. Os outros
    são encontrados a partir de 9.3.7 e 9.3.10
  • Do apêndice N temos que ngd00 e d01. Portanto
  • Temos também que ngd1 é igual a Cgd
  • Assim escreveremos expressoões para o modelo da
    Fig. 9.17 de uma maneira que ajudaremos o
    desenvolvimento da seção 8.3. Podemos então de
    maneira similar escrever os outros parâmetros
    correspondente a Fig.9.17

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  • O sinal negativo corresponde a Fig.9.17
  • Onde
  • E
  • Se utilizarmos uma freqüência muito baixa (wltltw0)
    o segundo termo do lado direito das equações de y
    podem ser desprezados, assim o modelo da Fig.9.17
    se reduziria ao modelo da fig.8.17.

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  • O valor de ? nas equações anteriores é dado por
    (4.5.38) e depende de VDS(VGS-VT)/a com a
    a1.Vimos que este valor para a é bom apenas para
    pequenos VDS. Devemos então substituir o valor
    de (a1-1) por um outro. Supondo as quantidades
    das equações anteriores iguais as encontradas no
    Cap. 8, nosso modelo se reduzirá não somente na
    topologia Fig.8.17 mas também em valores dos
    elementos. Usando (8.3.15) e (9.4.65) obtemos
  • Boa precisão p/ ?VDS ou ? VGS e/ou ?VSB
  • Nas equações de y, considerando wt2ltlt1, podemos
    escrever
  • encontrando assim
  • Na saturação
    ya0, e é formada por pequenas correntes (Ex.
    aquelas contribuídas pela capacitância extrínsica
    gate-substrato). Ortanto ya pode ser omitido em
    várias aplicações (P.9.17).

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  • Para os outros parâmetros apenas desprezaremos os
    termos de alta ordem do denominador
  • As admitâncias acima são da forma
    .A Figura abaixo mostra um circuito que realiza
    esta admitância (de ygs a ybd ?Fig. a) e de
    ysd?Fig. b.
  • A partir da Figura ao lado e utilizando as
    equações acima podemos observar que o circuito
    equivalente da figura 9.17 fica da forma da
    figura 9.20 (Próximo Slide). A paritr das
    equações acima e da Fig. ao lado temos
  • 9.19 Circuitos para representação das admitâncias

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  • Os resistores e indutores podem ser vistos como
    uma representação dos efeitos de inércia da
    camada de in- versão em resposta a rápidas varia-
    ções. Se a fonte de tensão muda bruscamente, a
    camada de inversão hesitará em responder,
    atrasando a corrente de gate e substrato, isto é
    representado por RGS,CGS e RBS, CBS
    respectivamente A combinação RGD,CGD e RBD,CBD
    correspondem ao efeito de mudança rápida no dreno
    (na não saturação). Lsd e gsd são a representação
    da inércia da camada de inversão na mudança da
    corrente da fonte quando uma variação rápida na
    tensão do dreno é necessária.
  • 9.20 Circuito equivalente p/ o modelo NQE de
    pequenos sinais

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  • Fig. 9.21
  • Comportamento típico das Resistências
    RGS,RGD,RBS,RBD
  • Notamos que RGD,RBD e Lsd vão para o infinito na
    saturação (assim como as impedâncias em série com
    elas e assumindo o canal sem modulação.)
  • Comportamento da Indutância LSD.

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  • O aparecimento do indutor no circuito anterior
    pode parecer meio estranho.
  • VDS0 então gmgmb0
  • Aplicando o circuito equivalente da Fig. 9.20 na
    Fig. 9.22a, resulta em Fig.9.22c. Para a Fig
    9.22c temos o mesmo
  • Portanto o indutor é apenas parte do circui-to
    equivalente e provoca o mesmo efeito. Observamos
    que ?w ?I0 (Inércia do canal) Para ?w os
    circuitos não funcionam. P/ ?w as impedâncias dos
    C? e do L? e o denominador da fonte de corrente1
    redu-zindo-se ao modelo 8.17. O modelo também
    pode ser relacionado ao modelo quase-está-tico da
    seção 9.2 onde p/ ?w a combinação RC reduz-se as
    capacitâncias da Fig.9.5

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  • Assumindo portanto temos
  • A comparação destes três termos p/ o modelo
  • Quase-estático (9.3.11f) ao (9.3.11h) nos
    mostra
  • que a forma é a mesma. As expressões também
    nos
  • mostra que
    portanto as três equações acima são idênticas a
    (9.3.11f) a (9.3.11h). Assim o modelo da Fig.
    9.20 se reduz ao modelo completo quase-estático
    da Fig 9.5 assumindo Cmx desprezível. Com a ?w as
    equações acima se reduzem ao modelo da Fig 8.17.
  • Como os coeficientes das fontes controladas da
    Fig 9.20 são complexos, não podemos utilizá-las
    em análise computacional, para isso fazemos
  • onde As equações ao lado funcionam se
  • Isto pode ser verificado na Fig.9.23
  • Para isso temos que ter certeza que os novos
    elementos produzem apenas uma corrente
    desprezível Em comparação as combinações Rgs-Cgs
    e Rbs-Cbs). Para nos assegurarmos disso podemos
    por exemplo usar

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  • Fig. 9.23
  • Modelo da Fig.9.20 modificado p/ evitar
    coeficientes complexos nas fontes controladas de
    corrente

34
  • Fig. 9.24
  • Modelo da Fig.9.20 modificado para operação na
    região de saturação.
  • Freqüentemente Lsd é substituído por
    curto-circuito

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • 9.4.3 Outras aproximações e Modelos de mais
    alta ordem
  • Modelo desenvolvido é válido até ??0
  • Outras aproximações para 9.4.65 ignorando termos
    de mais alta ordem não são recomendáveis
  • A complexidade do circuito aumenta muito, mas a
    região de validade continua a mesma
  • A degradação de tal modelo com a freqüência não é
    suave
  • O modelo em 9.4.69 é suave
  • A aproximação foi feita de modo a compensar
    parcialmente o efeito dos termos omitidos

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • Modelos de mais alta freqüência podem ser
    desenvolvidos mantendo o número adequado de
    termos de alta ordem nas expressões dos
    parâmetros y
  • Cuidado para manter suavidade na degradação!
  • Porque modelar para ? gt ?0?
  • Dispositivos de canal mais longo no mesmo
    circuito tem ?0 menor (9.4.67)
  • Alternativa calcular ?highest, avaliar ?0 para
    os circuitos relevantes. Os transistores com ?0 gt
    ?highest são modelados com mais alta ordem, os
    outros podem ser subdivididos para que ?0 gt
    ?highest e o novo modelo seja aplicável
  • Esse modelo deve estar livre de efeitos de canal
    curto ? os subtransistores não tem S e D reais.
  • O modelo proposto só é válido para inversão forte

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • 9.4.4 Comparação de Modelos
  • Em altas freqüências espera-se perda do controle
    da porta sobre o dreno devido à inércia da camada
    de inversão
  • O limite superior de freqüência de um parâmetro
    depende do parâmetro, ponto de operação, acurácia
    desejada, magnitude ou fase de maior interesse,
    etc.
  • Haverá sempre uma falha perscrutável
  • Sumarizando
  • Modelo Quase-Estático sem transcapacitores
    (fig.8.17) ?0/10
  • Modelo Quase-Estático com transcapacitores
    (fig.9.5) ?0/3
  • Modelo Não Quase-Estático de Primeira Ordem
    (fig.9.20) ?0

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9.4 Modelos Não-Quase-Estáticos
  • Fig. 9.25
  • ym / gm x log(?) e fase de ym x log(?) para
    ?0,5 (VDSVDS / 2)
  • Modelo simples
  • Modelo QE completo
  • Modelo da fig. 9.20
  • Resultado numérico (vale até além de 10?0)

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9.5 Ruído de Alta Freqüência
  • Influenciam a densidade espectral de potência no
    ruído ID para freqüências muito altas
  • Ruído térmico na inversão forte é o resultado de
    flutuações potenciais no canal
  • Flutuações acopladas ao terminal da porta pelo
    óxido
  • Ruído induzido na porta
  • Impedância de porta reduzida em altas freqüências
  • O modelo deve incluir esse ruído

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9.5 Ruído de Alta Freqüência
  • Fig 9.26
  • Curto entre S e B ?
  • Equivalente para pequenos sinais incluindo fontes
    de ruído ? e representação alternativa ?

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9.5 Ruído de Alta Freqüência
  • RGS modelado como uma fonte vng

Usando cálculos mais precisos e complicados
42
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Topologias de modelos
  • Também é necessário considerar parte Extrínseca
  • Aproximações para efeitos distribuídos
  • É difícil determinar os valores individuais das
    resistências

43
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Modelos de pequenos sinais para o transistor
    completo
  • Mais preciso ?
  • Mais prático ?

44
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Transistor com curto entre S e B ?
  • Modelo de pequenos sinais usado ?

O modelo não pode ser derivado de 9.27 porque
Rse e Rbe impedem curto entre S e B
Literatura diz que este modelo é válido para
saturação.
45
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Com tanta simplificação este modelo ainda
    consegue ser útil?
  • Parasitas extrínsecos podem dominar o
    comportamento do componente limitando sua
    aplicação abaixo dos limites sensíveis a Rgs ou
    t1
  • Os parâmetros são sempre casados para dar os
    resultados mais próximos das medidas (ruim)
  • Exemplo
  • Impedâncias de Cbse e Cbde em 9.27a ? para altas
    freqüências desviando a corrente de canal com
    Rbe1 e Rbe3 afetando ydd vista no dreno
  • 9.28b não prevê isso

46
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Pode-se usar os modelos gerais de parâmetros-y,
    que não dependem de tamanho de L, uniformidade de
    dopagem, efeitos extrínsecos, etc.
  • Só depende dos valores adequados das admitâncias
  • Calcular isso, porém, é complexo
  • Se os valores forem extraídos de medidas, o
    modelo não terá capacidade de predizer situações
    diferentes
  • Parâmetros-y também não são suportados por muitos
    programas de simulação

47
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Layout simples de transistor ?
  • Aproximação

48
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Resistência de Porta
  • O sinal das portas sofre atrasos de fase conforme
    nos movemos para a direita
  • Também há contribuição no ruído
  • Em altas freqüências esse ruído tende a ser
    filtrado pela capacitância de porta ? o ruído
    total se aproxima ao da parte intrínseca

49
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Contatos nos dois lados da porta
  • Equivalente a dois dispositivos em paralelo com
    WW0/2

50
9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Freqüência de Transição

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9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Circuito para estimativa de ?T
  • ?T é definido quando I0 / Ii 1

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9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Exemplo
  • Canal Longo redução de L aumenta drasticamente
    ?T (9.6.5)!
  • Canal curto a velocidade de saturação reduz
    crescimento de ?T

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9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Freqüência de Transição x VGS
  • Crescimento de ?T não é linear ? ?VGS ? ?µeff

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9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Máxima Freqüência de Oscilação
  • ?T não considera Rge, que prejudica circuitos de
    RF
  • ?max ? figura de mérito
  • Ganho de potência (potência da carga) /
    (potência de entrada)
  • ? Freqüência ? ? Ganho unilateral

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9.6 Considerações no Modelamento de MOSFET para
aplicações de RF
  • Exemplo
  • Para manter Rge,eff pequeno
  • Usar siliceto na porta
  • Múltiplos contatos
  • Conectar subdispositivos em paralelo
  • Reduzir Rge assim, aumenta ?max e pode tornar
    outros efeitos como os de Ser ou Rgs apreciáveis
  • Aa aproximações de ?T e ?max são amplamente
    usadas e consistentes com a prática de extrapolar
    os parâmetros para baixas freqüências
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